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在電子信息化社會中，電子技術和微電子技術是最為基礎的技術支撐。電子技術廣泛應用于國民經(jīng)濟的各個領域，是信息社會的重要基石。合適且優(yōu)秀的電子產品不僅僅是性能出類拔萃，耐用、使用壽命長也是對電子產品的另外一項重要的考核指標。對電子與微電子材料的選材與設計、并進行力學測試分析，關系著電子與微電子產品設計的發(fā)展。

凱爾測控針對電子/微電子材料可提供：靜態(tài)拉伸/壓縮強度試驗、動態(tài)疲勞使用壽命試驗、三點彎壓縮試驗、四點彎壓縮試驗、平板拉伸試驗、動/靜態(tài)扭轉試驗、側向力剪切試驗、3維DIC樣品變形試驗、2維引伸計應變測量/云圖繪制、高低溫環(huán)境下的材料性能變化。

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試驗案例

電路板高溫平板拉伸實驗

滿足不同尺寸電路板拉伸的需求。位移控制速率可低至2*10-4mm/s。搭配高低溫環(huán)境箱，滿足不同環(huán)境溫度下不同尺寸的電路板拉伸試驗。